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多機能高速I-V計測システム『ラキット』 | 株式会社エヌ・ピー・シー

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多機能高速I-V計測システム『ラキット』

太陽光パネルの検査装置

多機能高速I-V計測システム『ラキット』

ラキットは、ストリング単位で電流電圧特性を計測し、太陽光発電システムの特性や異常値等を把握するメンテナンスキットです。日射計、温度センサー、多連プローブ*1を含む計測ツールと、I-Vデータを集計・解析するソフトウェア(I-Vデータアナライザー)がセットになっており、短時間で正確な解析レポートを出力します。I-Vデータアナライザーは、下記のI-Vトレーサーに対応しております。

  • 株式会社戸上電機製作所:SPST-A1・A2
  • 英弘精機株式会社:MP-11
  • 日本カーネルシステム株式会社:Epsilon1000

*1 戸上電機製作所製ストリングトレーサを使用した場合

ラキット

ラキット

ラキットの紹介動画(4分20秒:音声なし)を公開中です。

『ラキット/Rakit』および『ラキット/Rakit』ロゴは株式会社エヌ・ピー・シーの登録商標(第5733820号、第5738947号)です。

ラキットの特徴

高速計測で発電ロスを低減、異常値もひと目でわかる

多連プローブ(多連プローブホルダーで特許登録:第5912156号)を用いた検査により、4ストリング同時計測が可能*2です。これにより、計測時間は1MWあたりわずか2時間 *3)となり、メンテナンス中の発電ロスを抑えます。また、ストリング4本の開放電圧の計測値を相互比較することで、異常のあるストリングもすぐわかります。

高速計測

*2 戸上電機製作所製ストリングトレーサを使用した場合
*3 実際の設置状況等により、所要時間は前後します。

射量・温度に応じた補正(STC変換)で正確なデータを提供

メンテナンス中も、天気は刻々と変化しています。ラキットは、日射量とパネルの温度をデータロガーに保存し、I-V測定値を標準試験条件下*4のデータに自動で補正することで、正確な解析結果をご提供します。

 

*4 温度:25℃、放射照度:1,000W/m²

どこでも簡単に操作できる解析ソフトウェア I-Vデータアナライザー

rakit img03

インターネット環境さえあれば、場所を選ばず作業を行えます。クラウドサーバーにより、データを移動することなく、離れた場所にいる作業者間でデータ共有が可能(*5)です。入力操作も簡単で、初めての方でも安心して作業できます。

要件はインターネット環境のみ

要件はインターネット環境のみ

作業者間でデータを共有

作業者間でデータを共有

シンプルなインターフェース

シンプルなインターフェース

*5 1つのIDでログインできるのは1名です。

最短3分で解析レポート自動出力

当社独自のアルゴリズムで解析を行い、メガソーラーのデータを高速処理。集計・解析・レポート出力まで1MWあたりわずか3分(*6)で行います。3つの判定モードによってストリングの異常値を検出。判定モードを抵抗系、電流電圧系、電力系の3つの判定基準から選択できます。開放電圧と短絡電流は同時測定したデータの比較により判定が可能です。

判定モード異常値の内容考えられる要因
FF値比較 直列・並列抵抗の増減 配線材のはがれ、クラック、PID現象(*7)等
同時測定値比較 開放電圧・短絡電流の低下 ダイオードショート、断線、封止材変色等
最大出力比較 最大出力の低下 上記すべてに該当
判定モード
FF値比較
同時測定値比較
最大出力比較
異常値の内容
直列・並列抵抗の増減
開放電圧・短絡電流の低下
最大出力の低下
考えられる要因
配線材のはがれ、クラック、PID現象(*7)等
ダイオードショート、断線、封止材変色等
上記すべてに該当

解析画面の一例

STC変換後の最大出力ヒストグラム(総発電量やストリングごとの発電量のばらつき等を表示)
STC変換後の最大出力ヒストグラム
FFヒストグラム(ストリングの判定基準を自由に設定でき、発電状況の傾向を表示)
FFヒストグラム

全ての要検査ストリングと良品ストリングのI-Vカーブ(比較することで異常をひと目で確認)

全ての要検査ストリングと良品ストリングのI-Vカーブ
要検査ストリングのI-Vカーブ(異常のあるストリングのI-Vカーブを個別に表示)
要検査ストリングのI-Vカーブ

*6 実際の設置状況等により、所要時間は前後します。

*7 多数の太陽光パネルを直列接続して高電圧下で運用した場合に見られる劣化現象

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089-946-6605(松山工場)

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