太陽光パネルの検査装置、他
屋外EL/PL検査装置『エプティフ』
太陽光パネル製造現場における品質検査を、日中に設置現場で実施!
『エプティフ』は、多くの太陽光パネルメーカーが用いている品質検査方法、EL(エレクトロ・ルミネッセンス)検査、PL(フォト・ルミネッセンス)検査を、日中に太陽光発電所でパネルを取り外すことなく実施することを可能とした、業界初の検査装置です。赤外線カメラでパネルを撮影するだけで、目には見えないパネルの不具合を可視化。晴れでも曇りでも、日照条件に左右されない安定的な検査結果が得られます。 当社はエプティフ本体の販売、レンタルおよびエプティフを用いたメンテナンスサービスを提供しています。 |
設置現場で不具合箇所をひと目で特定
開発: Institute for Photovoltaics, University of Stuttgart
提供: Solarzentrum Stuttgart GmbH
『エプティフ/EPTiF』および『エプティフ/EPTiF』ロゴは株式会社エヌ・ピー・シーの登録商標(第5733852号、第5733853号)です。
エプティフの特徴
パネルを取り外すことなく、設置現場で工場と同レベルの品質検査が可能。
設置現場で暗室やレーザー光源を使用せずに、簡便にEL/PL検査が可能。
日照の強弱等に左右されずに安定した検査が可能。
パネル内部の状態をすばやく可視化。
当社独自の画像解析でパネルの健康状態を診断。
住宅用システムからメガソーラーまで、あらゆる用途で検査可能。
不具合の前兆を見抜くことが可能。
パネルの劣化・故障に起因する発電ロスや損失を未然に防ぐ、もしくは早急に食い止める。
設置後の定期検査のみならず、設置前の受入時検査や竣工時検査におけるパネルの検査等、屋内及び屋外の様々な場面での活用が可能。
発電量の低下等の原因究明や、台風・積雪等発生後の検査に有効。
エプティフの原理
エプティフが実施するEL検査、PL検査の原理を説明します。
EL検査の原理太陽電池に強制的に電流を流して発光させ、赤外線カメラで撮影し、画像化します。結晶や電極に欠陥があれば、EL発光の強度が低下し、PID現象による劣化箇所やクラック等、目には見えないものも含め、不具合箇所が画像の明暗で表示されます。 |
PL検査の原理太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。PL検査はレーザー光を太陽電池に照射し、発光させ、その光を撮像する検査方法です。セルそのものの素子劣化や均質性を評価することができます。 |
エプティフのシステム構成・検査手順
エプティフは、信号入力ボックス、赤外線カメラ、PCの3点で構成されます。通常のEL検査とは異なり、特殊な信号を周期的にパネル(ストリング)に入力し、その周期と一致した部分のみをカメラで捉えて画像化します。そのため、通常必要な暗室は不要です。PL検査についても、光源には太陽光を用いるため、通常必要なレーザー光源は不要です。また、セル単位ではなくパネル(ストリング)単位での検査が可能です。
検査手順
*背景など、信号入力の周期と異なる部分はノイズとして排除し、同一周期で発光している部分のみを画像化する。
エプティフのラインナップ
様々な用途に応じた3機種のエプティフを提供しています。
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NEP-S 単体パネル用 | NEP-I 産業システム用 | NEP-R 住宅システム用 | ||
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測定対象 | 単結晶系/多結晶系シリコンパネル及びストリング、CIS系パネル及びストリング(別途フィルター必要)、HITパネル及びストリング | |||
検出対象 | 非発電領域、クラック、ハンダ不良、PIDによる劣化、フィンガー断線等 | |||
測定枚数 | パネル1枚 (DC120V/10A) | パネルストリング1本 (DC1000V/15A) | パネルストリング1本 (DC250V/10A) | |
カメラ | InGaAsカメラ 解像度320x256ピクセル(防水機能なし) | InGaAsカメラ 解像度320x256ピクセル(防水機能あり) | ||
撮像時間 | 約10~30秒/1回の撮像 | |||
システム構成 | 信号入力ボックス(保護ケース含む)、カメラ、PC | |||
電源 | パネル 印加用 | AC100V 50/60Hz 2500W | 発電している他のストリングより電源供給 (オプション: DC1000V/10A+10kW発電機) | AC100V 50/60Hz 2500W |
制御 回路用 | AC100V 50/60Hz 500W | |||
製品保証期間 | 1年 |
注) HITはパナソニックグループの登録商標です。
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